XF-P1镀层测厚仪是西凡仪器面向镀层无损检测的一款X射线荧光光谱仪，可广泛应用于各种电镀、化学镀等行业。该产品使用进口定制Si-PIN探测器，内置四核CPU工控电脑，运行Smart FP算法。无需标样，可同时检测镀层厚度和成分，检测速度快，测试稳定性好、准确性高。

镀层测厚仪XF-P1产品展示

镀层测厚仪XF-P1产品特点

元素检测范围：铝(No.13)～铀(No.92)

可支持*多四层检测

可同时支持镀层厚度和成分检测

检测精度：0.001um(厚度）

±0.02%(成分)

定制TCP/IP协议API接口，支持外部主机对设备的控制、状态监控及数据采集

支持多点连续测试，测试效率高

三准直器自动切换

XY平面微动平台，轻松多点测试小样品

铅玻璃窗口，方便观察样品

镀层测厚仪XF-P1产品规格

输入电压：交流100～240V，50Hz

产品包装尺寸：615mmx555mmx480mm

产品尺寸：500mmx400mmx368mm

样品腔尺寸：380mmx320mmx155mm

额定功率：<150W

毛重：59KG

净重：46KG

噪音：50dB

使用环境：

温度：15℃～31℃

湿度：<70%（不结露）

镀层测厚仪XF-P1核心部件

探测器：AMPTEK定制版Si-PIN探测器

内置工控电脑：Intel I3四核+Windows11

高压电源：50KV/1mA数字高压电源

X射线管：50KV/1mA

窗口材料：铍窗

靶材：钨

焦点：ϕ 0.5mm

准直器：ϕ0.5mm/ ϕ1.0mm/ ϕ2.0mm